私を助けてください：約インフラテスト

[I_test]

私はチップをSOCの小さな午前割り当てられているデザイン。そこにいるのCPU、メモリ、およびいくつかのデジタル/ anologで使用されるモジュールは、。についてテストは、欲望は：
（1）少なくともテストピンに使用されます。
（2）少なくともテスト時間。
（3）のテスト回路面積最小。

てください。ソ¥リューションを助ける良い私が見つける。ありがとう。

 

[Guest]

[No message]

 

[Guest]

I_testは書き込み：

私は小さいのSOCチップを設計に割り当てられています。
また、CPU、メモリ、いくつかのデジタル/ anologモジュールはそれで使用されている。
についてテストは、欲望は：

（1）少なくともテストピンに使用されます。

（2）少なくともテスト時間。

（3）テスト回路の最小領域。してください私は良い解決策を見つけるのに役立ちます。
ありがとう。

 

[ic_design]

BISTのテストのためのメモリ。

スキャンモジュールの他の。