パッケージHEMTのためのテストフィクスチャ

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Ivan_

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親愛なるすべて、
私は
、 富士通FHX35LGパッケージ
、 低ノイズHEMTのDCの挙動を測定する必要があります。そのために、私は、テストフィクスチャの設計に必要なのです。私は、2つのパッドコリメータ金属ストリップのグランドプレーンにソ¥ース自体の接続を使ってソ¥ースに接続して簡単なテストフィクスチャの固定周波数でのドレインおよびゲートはそれぞれ接続を50ΩTRLのが使用されます。パラメータアナライザで測定を実行する、私は、飽和領域における電流量の削減を非常に奇妙なVdsでの- idに曲線を取得します。私を50Ωライン終端のための2つのバイアスティーを使用します。私は両方のパルスを連続測定し、結果に重大な変更を加えずにしようとした。私はいくつかの不安定性を推測、おそらく貧困層の接地のために配置されます。誰かが私は良いテストフィクスチャの設計correcti IV曲線を入手してください手伝ってくれる?事前に感謝します。

イワン[スペース] [/スペース]
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行動をフィクスチャには
、 トランジスタの自己振動によって引き起こされることがあります。チェックアウトのために軽く結合プローブ(またはループ)を介して単スペクトラムアナライザに接続します。場合は
、 自己振動をマイクロ波領域では、されている指揮者では
、 発振を停止するEccosorbの作品を配置してください。

 
おかげで多くのVSWR、
あなたが私にどの程度正確にECCOSORB自分で作業する必要があります振動の抑制を説明してくださいだろうか?私は表¥面波抑制用RF動作時にも使用できますか?また、私はそれを最終的な複雑な設計のDCバイアス線とRF回路の間の相互結合を低減する場合に役立ちますね。私の質問は:それを大幅に基板の電気的特性をするときのRFの動作中にuwaveまたはミリ波回路で使用さを変更するのですか?場合は、結果として、もし私は、S -と同様の行列を測定するためのテストフィクスチャを作成するには、非常にuseful.Butを吸収する素材出てくる必要はありませんが十¥分に完全なRF回路の一部と見なされるため、薄くする必要がありますと思うよ...
分解吸収材からは、HEMTの測定の信頼性を最適化するための効果的なテストフィクスチャのレイアウトを知っていますか?

おかげで再び、

わたし

 

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