Aug 23, 2010 #2 S semiconductorman Guest 検証は、設計のバグをロジックの発見funciontal /プロセスです。これはシミュレーションです実行することにより、通常。参照中のテストポートをJTAGはプロービングの製造に見つけるテスターでマシンのバグをによって行われますこれは等層デザインこれは行わ金属クラックされた後にチップのようなバグをmanufactedを見つける
検証は、設計のバグをロジックの発見funciontal /プロセスです。これはシミュレーションです実行することにより、通常。参照中のテストポートをJTAGはプロービングの製造に見つけるテスターでマシンのバグをによって行われますこれは等層デザインこれは行わ金属クラックされた後にチップのようなバグをmanufactedを見つける
Aug 23, 2010 #3 S shankarmit Guest 実際の検証とテストはいくつかのもの..に関連するツナ 検証が望むあなたがモジュールとして動作をさチェック。その論理検証すなわち、モジュールをチェックすること機能¥動作します。 テストは最大ですリアルタイム今日までに効果が確認が動作する我々のモジュールは、。周波数..下のような温度。 検証がfuncationalityですチェックだけで良いです。..中に作品をモジュールこの制約を最大にテストは見つけるまで
実際の検証とテストはいくつかのもの..に関連するツナ 検証が望むあなたがモジュールとして動作をさチェック。その論理検証すなわち、モジュールをチェックすること機能¥動作します。 テストは最大ですリアルタイム今日までに効果が確認が動作する我々のモジュールは、。周波数..下のような温度。 検証がfuncationalityですチェックだけで良いです。..中に作品をモジュールこの制約を最大にテストは見つけるまで
Aug 23, 2010 #4 G Guest Guest こんにちは、 中にシリコンテストはポストシリコン検証はさ行わ中古。 検証は、デザインが行わ事前のfunctionlityを確認希望するシリコンのステージ。 テストはmanufecturing内であることのポスト故障を検出する段階シリコン等 よろしくお願いいたします。 ぴっちりしたジュ
こんにちは、 中にシリコンテストはポストシリコン検証はさ行わ中古。 検証は、デザインが行わ事前のfunctionlityを確認希望するシリコンのステージ。 テストはmanufecturing内であることのポスト故障を検出する段階シリコン等 よろしくお願いいたします。 ぴっちりしたジュ
Aug 23, 2010 #5 Z zhangpengyu Guest 検証はANSを、タイミング、正式いる多くの種類のようなシステム、機能¥など。 テストはmanufectureている検出断層がありません。
Aug 23, 2010 #7 K kumar_eee Guest 検証はANSを、タイミング、正式いる多くの種類のようなシステム、機能¥など。テストは、チップをウルの特性を使用さ... 例: ていないか良い適用VccをすることですGNDピン&chking、チップかどうかを... このテストプロセスは..)機器のテスト自動化されることで使用して帯水層を(
検証はANSを、タイミング、正式いる多くの種類のようなシステム、機能¥など。テストは、チップをウルの特性を使用さ... 例: ていないか良い適用VccをすることですGNDピン&chking、チップかどうかを... このテストプロセスは..)機器のテスト自動化されることで使用して帯水層を(